НПП «Буревестник», ОАО Россия, 195112 Санкт-Петербург, Малоохтинский пр., 68 (м.Новочеркасская)		Показать на карте
E-Mail:	bourevestnik@bourevestnik.spb.ru	Все отделы и службы
Телефон:	+7 (812) 676 1001
Факс:	+7 (812) 528 6633

Продукция / Аналитическая техника

Кристаллы для дифракции проникающих излучений

40-летний опыт разработки и производства кристалл-дифракционных диспергирующих элементов!

Десятками тысяч кристалл-дифракционных диспергирующих элементов (КДЭ), изготовленных НПП "Буревестник", ОАО, оснащены все серийные отечественные рентгеновские приборы, обеспечены фундаментальные и прикладные разработки исследовательских центров, ведутся постоянные поставки в промышленно развитые страны.

Широта применения способствует разнообразию материалов, размеров и форм КДЭ при ограниченных объемах заказов. Наши технологии ориентированы на мелкосерийное и единичное производство с тщательным пооперационным контролем.

Отличительные особенности

Полный набор материалов и отражающих плоскостей монокристаллов, применяемых для анализа проникающих излучений:

Наименование	Отражающая плоскость	2d(A)
Кварц	1011	6.68
	1010	8.50
	1340	2.36
Фтористый литий	200	4.03
	220	2.84
	420	1.80
Фтористый натрий	200	4.64
Фтористый магний	002	3.08
Германий	111	6.54
	220	4.00
	422	2.31
Кремний	111	6.28
	220	3.85
	422	2.22
Антимонид индия	111	7.48
Слюда	0002	19.9
Графит	0002	6.70
Дигидрофосфат аммония	101	10.64
Пентаэритрит (PET)	002	8.73
Бифталат калия (KAP)	001	26.6
Бифталат рубидия (RbАP)	001	26

Многослойные покрытия разных типов:

Напыленные интерференционные структуры (МИС)
Мономолекулярные слои (стеарат свинца PbSt и др.)
Другие материалы и отражающие плоскости по требованию заказчика.

Различная ориентация отражающей плоскости:

параллельно (дифракция на отражение) рабочей поверхности;
перпендикулярно (дифракция на прохождение) рабочей поверхности;
под произвольным углом к рабочей поверхности.

Точность ориентации обычно 5 угл. мин., по требованию Заказчика до 1 угл. мин. и выше.

Специальная обработка поверхности, обеспечивающая максимальную эффективность отражения при требуемом разрешении.

Изготовление КДЭ сложной формы:

с одинарным изгибом (цилиндрические, конические);
с двойным изгибом (сферические, тороидальные);
со сложным контуром (треугольным, эллиптическим и т.д.);
с вышлифовкой по Иоганссону;
с изгибом по логарифмической спирали;
с пазами для многократного отражения и интерференции.

Установка на держатели Заказчика либо собственного изготовления, плоские или с различной кривизной поверхности, несущей кристалл.

Наборные панели большой площади из плоских или изогнутых кристаллов.

Проверка и калибровка КДЭ на контрольном излучении в диапазоне 0.5 - 2.5 A по собственной кривой качания (угловому распределению коэффициента отражения).

Услуги по выбору и сопряжению параметров КДЭ и рентгенооптической схемы.

Монокристаллические держатели проб для снижения фона при фазовом рентгеноструктурном анализе

Прочие оптические элементы из кристаллов и стекла: пластины, призмы, кюветы, экраны, защитные стекла, светофильтры, линзы и т.д.

Все кристаллы подвергаются сплошному рентгеновскому контролю.

Название организации*
ФИО контактного лица*
Телефон*
E-mail*
Почтовый адрес
Интересующая информация *	Коммерческое предложение: Счет: Договор: Иное:
Пояснение
	Отправить