|
Используется для обработки и анализа рентгенодифракционных данных, измеренных на дифрактометрах ДРОН-7/8, а также для расчета различных кристаллографических и структурных характеристик исследуемых материалов. В состав комплекса PDWin входят следующие программы: DRWin, Stand, Param, Ind, TheorPattern, Quan, Size&Strain, Rietveld, MacroStress, Thermo.
|
|
«Предварительная обработка – DrWin»
|
- Обработка всей дифрактограммы либо выделенного фрагмента;
- Аппроксимация фона (полиномом либо пользовательской кривой);
- Разделение Ka-дуплетов;
- Определение угловых положений максимумов;
- Аппроксимация профилей рефлексов функцией псевдо-Войта (для всего массива либо индивидуально для каждого пика);
- Расчет линейных и интегральных интенсивностей рефлексов;
- Расчет ПШПВ рефлексов;
- Расчет содержания аморфной фазы (степени кристалличности).
|
|
|
«Калибровка по стандарту – Stand»
|
- Построение калибровочного графика по внешнему или внутреннему стандарту;
- Коррекция угловых положений максимумов;
- Сохранение файла откорректированных данных для дальнейших расчетов.
|
|
|
«Уточнение параметров элементарной ячейки – Param»
|
- Расчет параметров элементарной ячейки (ПЭЯ) для любой из шести сингоний с известными индексами отражений;
- Выбор максимумов для расчета;
- Расчет ПЭЯ для различных компонентов в многофазных системах.
|
|
|
«Расчет областей когерентного рассеяния и микродеформаций - Size&Strain»
|
- Построение зависимостей вторых моментов, рассчитанных из профилей рефлексов, от угла дифракции;
- Определение размеров кристаллитов и микродеформаций по методу моментов;
- Расчет инструментального фактора;
- Учет поглощения при использовании эталона другого состава.
|
|
|
«Количественный анализ – Quan»
|
- Расчет массовых коэффициентов поглощения для любых химических соединений.
- Выбор линий образца и эталона для анализа.
- Количественный фазовый анализ смеси семью методами:
- полный анализ многофазной смеси;
- анализ n-компонентной системы;
- анализ образца с известным массовым коэффициентом поглощения;
- метод внутреннего стандарта;
- метод корундовых чисел;
- метод добавок;
- метод разбавления.
|
|
|
«Автоиндицирование – Ind»
|
- Определение типа решетки Браве;
- Выбор элементарной ячейки;
- Расчет индексов дифракционных отражений;
- Визуализация результатов в виде штрих-диаграммы.
|
|
|
«Метод Ритвельда – Rietveld»
|
- Чтение файлов формата cif из баз структурных данных ICSD и COD и их редактирование;
- Полный количественный анализ порошковой смеси;
- Уточнение структуры однофазного/многофазного поликристаллического образца;
- Расчет полиномиального и физического фона;
- Уточнение индивидуальных коэффициентов U, V, W, X, Y для разных фаз и типов рефлексов;
- Уточнение параметров элементарной ячейки, атомных и тепловых параметров, заселенностей атомных позиций для каждой фазы;
- Учет преимущественной ориентации индивидуально для каждой фазы (при необходимости);
- Выбор стратегии уточнения;
- Управление условиями уточнения;
- Создание и сохранение шаблонов для структурного уточнения и количественного анализа смеси;
- Расчет пяти R-факторов.
|
|
|
«Расчет теоретической дифрактограммы – TheorPattern»
|
- Чтение файлов формата cif из баз структурных данных ICSD и COD и их редактирование;
- Моделирование дифрактограмм многофазных смесей по структурным данным;
- Учет инструментального фактора;
- Учет текстуры и размеров кристаллитов индивидуально для каждой фазы;
- Сравнение модельной дифрактограммы с экспериментальной;
- Встроенный пакет математической кристаллографии.
|
|
|
«Терморентгенография – Thermo»
|
- 3D-визуализация измеренных рентген-дифракционных данных в координатах «угол дифракции – интенсивность – температура»;
- Калибровка всего массива экспериментальных данных по внутреннему и внешнему стандарту;
- Уточнение параметров элементарной ячейки по всему массиву откалиброванных данных;
- Определение точек фазовых переходов;
- Определение коэффициентов теплового расширения (КТР) в различных направлениях и тензоров термических деформаций;
- Построение фигур КТР.
|
|
|
«Расчет макронапряжений – MacroStress»
|
- Расчет углового положения максимума по центру тяжести или по вершине пика;
- Нахождение матрицы поправок;
- Вычисление линейных, плоских и объемных макронапряжений;
- Расчет погрешностей напряжений.
|
|